ГОСТ 11630-84 Приборы полупроводниковые. Общие технические условия
Статус: Информация о статусе доступна в коммерческой версии NormaCS. Ограничение срока действия снято: Постановление Госстандарта № 826 от 30.07.92 Синонимы: СТ СЭВ 300-76; СТ СЭВ 3992-83 Текст документа: присутствует в коммерческой версии NormaCS Сканкопия официального издания документа: присутствует в коммерческой версии NormaCS Страниц в документе: 42 Утвержден: Госстандарт СССР; Комитет стандартов, мер и измерительных приборов при Совмине СССР, 29.06.1984 Обозначение: ГОСТ 11630-84 Наименование: Приборы полупроводниковые. Общие технические условия Дополнительные сведения: доступны через сетевой клиент NormaCS. После установки нажмите на иконку рядом с названием документа для его открытия в NormaCS
ГОСТ 11630-70 - Приборы полупроводниковые для устройств широкого применения. Общие технические условия
Документ ссылается на:
Показать легенду
ГОСТ 11630-70 - Приборы полупроводниковые для устройств широкого применения. Общие технические условия ГОСТ 14192-77 - Маркировка грузов ГОСТ 14192-96 - Маркировка грузов ГОСТ 15150-69 - Машины, приборы и другие технические изделия. Исполнения для различных климатических районов. Категории, условия эксплуатации, хранения и транспортирования в части воздействия климатических факторов внешней среды ГОСТ 18242-72 - Статистический приемочный контроль по альтернативному признаку. Планы контроля ГОСТ 18472-88 - Приборы полупроводниковые. Основные размеры ГОСТ 18604.0-83 - Транзисторы биполярные. Общие требования при измерении электрических параметров ГОСТ 18604.1-80 - Транзисторы биполярные. Метод измерения постоянной времени цепи обратной связи на высокой частоте ГОСТ 18604.10-76 - Транзисторы биполярные. Метод измерения входного сопротивления ГОСТ 18604.11-88 - Транзисторы биполярные. Метод измерения коэффициента шума на высоких и сверхвысоких частотах ГОСТ 18604.13-77 - Транзисторы биполярные СВЧ генераторные. Методы измерения выходной мощности и определения коэффициента усиления по мощности и коэффициента полезного действия коллектора ГОСТ 18604.15-77 - Транзисторы биполярные СВЧ генераторные. Методы измерения критического тока ГОСТ 18604.16-78 - Транзисторы биполярные. Метод измерения коэффициента обратной связи по напряжению в режиме малого сигнала ГОСТ 18604.22-78 - Транзисторы биполярные. Методы измерения напряжения насыщения коллектор-эмиттер и база-эмиттер ГОСТ 18604.23-80 - Транзисторы биполярные. Метод измерения коэффициентов комбинационных составляющих ГОСТ 18604.24-81 - Транзисторы биполярные высокочастотные. Метод измерения выходной мощности коэффициента усиления по мощности и коэффициента полезного действия коллектора ГОСТ 18604.3-80 - Транзисторы биполярные. Методы измерения емкостей коллекторного и эммитерного переходов ГОСТ 18604.4-74 - Транзисторы. Метод измерения обратного тока коллектора ГОСТ 18604.8-74 - Транзисторы. Метод измерения выходной проводимости ГОСТ 18604.9-82 - Транзисторы биполярные. Методы определения граничной и предельной частот коэффициента передачи тока ГОСТ 18986.0-74 - Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения ГОСТ 18986.1-73 - Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока ГОСТ 18986.10-74 - Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности ГОСТ 18986.13-74 - Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора ГОСТ 18986.14-85 - Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений ГОСТ 18986.15-75 - Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации ГОСТ 18986.16-72 - Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока ГОСТ 18986.17-73 - Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации ГОСТ 18986.19-73 - Варикапы. Метод измерения добротности ГОСТ 18986.20-77 - Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим ГОСТ 18986.21-78 - Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации ГОСТ 18986.22-78 - Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления ГОСТ 18986.23-80 - Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума ГОСТ 18986.24-83 - Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения ГОСТ 18986.3-73 - Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока ГОСТ 18986.9-73 - Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения ГОСТ 19138.0-85 - Тиристоры. Общие требования к методам измерения параметров ГОСТ 19138.3-85 - Тиристоры триодные. Метод измерения времени выключения ГОСТ 19138.4-73 - Тиристоры. Метод измерения времени включения, нарастания и задержки ГОСТ 19138.5-85 - Тиристоры триодные. Метод измерения времени включения, нарастания и задержки ГОСТ 19138.7-74 - Тиристоры. Метод измерения импульсного запирающего тока управления, импульсного запирающего напряжения управления, импульсного коэффициента запирания ГОСТ 19834.0-75 - Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров ГОСТ 19834.2-74 - Излучатели полупроводниковые. Методы измерения силы излучения и энергетической яркости ГОСТ 19834.3-76 - Излучатели полупроводниковые. Метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения ГОСТ 19834.4-79 - Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения ГОСТ 19834.5-80 - Диоды полупроводниковые инфракрасные излучающие. Метод измерения временных параметров импульса излучения ГОСТ 20.57.406-81 - Комплексная система контроля качества. Изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические. Методы испытаний ГОСТ 20398.0-83 - Транзисторы полевые. Общие требования при измерении электрических параметров ГОСТ 20398.1-74 - Транзисторы полевые. Метод измерения модуля полной проводимости прямой передачи ГОСТ 20398.13-80 - Транзисторы полевые. Метод измерения сопротивления сток-исток ГОСТ 20398.8-74 - Транзисторы полевые. Метод измерения начального тока стока ГОСТ 20398.9-80 - Транзисторы полевые. Метод измерения крутизны характеристики в импульсном режиме ГОСТ 21493-76 - Изделия электронной техники. Требования по сохраняемости и методы испытаний ГОСТ 23088-80 - Изделия электронной техники. Требования к упаковке, транспортированию и методы испытаний ГОСТ 23135-78 - Изделия электронной техники. Общие требования при поставке на экспорт ГОСТ 23448-79 - Диоды полупроводниковые инфракрасные излучающие. Основные размеры ГОСТ 24354-80 - Индикаторы знакосинтезирующие полупроводниковые. Основные размеры ГОСТ 24385-80 - Изделия электронной техники. Правила маркировки тары ГОСТ 24613.0-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Общие положения при измерении электрических параметров ГОСТ 24613.1-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости ГОСТ 24613.18-77 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения сопротивления изоляции ГОСТ 24613.19-77 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения коэффициента передачи по току ГОСТ 24613.3-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения входного напряжения ГОСТ 24613.6-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции ГОСТ 24613.8-83 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции ГОСТ 24613.9-83 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров ГОСТ 25024.4-85 - Индикаторы знакосинтезирующие. Методы измерения яркости, силы света, неравномерности яркости и неравномерности силы света ГОСТ 25359-82 - Изделия электронной техники. Общие требования по надежности и методы испытаний ГОСТ 25360-82 - Изделия электронной техники. Правила приемки ГОСТ 25467-82 - Изделия электронной техники. Классификация по условиям применения и требования по стойкости к внешним воздействующим факторам ГОСТ 25486-82 - Изделия электронной техники. Маркировка ГОСТ 30668-2000 - Изделия электронной техники. Маркировка ГОСТ 8.002-86 - Государственная система обеспечения единства измерений. Государственный надзор и ведомственный контроль за средствами измерений. Основные положения ГОСТ Р ИСО 2859-1-2007 - Статистические методы. Процедуры выборочного контроля по альтернативному признаку. Часть 1. Планы выборочного контроля последовательных партий на основе приемлемого уровня качества
На документ ссылаются:
Показать легенду
Средства вычислительной техники для атомных станций. Общие технические требования (ОТТ) ГОСТ 17126-76 - Стабилитроны полупроводниковые типов Д815А, Д815Б, Д815В, Д815Г, Д815Д, Д815Е, Д815Ж, Д815И, Д816А, Д816Б, Д816В, Д816Г, Д816Д, Д817А, Д817Б, Д817В, Д817Г, КС620А, КС630А, КС650А, КС680А. Технические условия ГОСТ Р 71763-2024 - Подшипники качения приборные. Контроль момента трения методом выбега ГОСТ Р 71914-2024 - Микросхемы интегральные на общей пластине и приборы полупроводниковые на общей пластине и разделенные на кристаллы. Порядок приемки и поставки ГОСТ Р 72064-2025 - База электронная компонентная для ракетно-космической техники. Требования к хранению Приказ 217 - О закреплении документов национальной системы стандартизации за техническим комитетом по стандартизации "Изделия электронной техники, материалы и оборудование" (ТК 303)
Наш сайт использует cookies - небольшие фрагменты данных, хранимые на компьютере пользователя.
Оставаясь на сайте, вы соглашаетесь на использование cookies.
Вы можете заблокировать cookies в настройках вашего браузера.
ГОСТ 11630-84 Приборы полупроводниковые. Общие технические условия
